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冯诺依曼测量框架描述了目标系统和探针之间的动态相互作用。相比之下,量子控制测量框架使用量子比特探针来控制不同运算符对目标系统的操作,并且便于建立通用量子计算。在这项工作中,我们使用量子控制测量框架直接测量量子态。我们介绍了两种类型的量子控制测量框架,并研究了由这两种类型引起的系统误差(真实值和估计值之间的偏差)。我们用数字方式研究了系统误差,评估了置信区域,并研究了由于不完美检测而产生的实验噪声的影响。我们的分析在直接量子态层析成像中具有重要的应用。
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